سختی سنج Leeb
تستر سختی Leeb به طور کاملا یکپارچه و دستی با بدنه ای قوی، ایده آل برای تست سریع سختی
پروب DL اختیاری برای فضاهای محدود و سطوح محصور
با قابلیت انتقال داده ها به کامپیوتر
Native Scale |
HL |
Measuring Range |
150 – 950 HL |
Measuring Accuracy |
± 4 HL (0.5% at 800 HL) |
Available Scales |
HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA (Equotip Piccolo 2 only) |
Available Probes |
Leeb D / DL |
Combination With Other Methods |
|
Average Roughness Ra (µm / µinch) |
2 / 80 |
Minimum Mass (kg / lbs) |
0.05 / 0.2 |
Minimum Thickness (mm / inch) |
3 / 0.12 |
ساخت کمپانی Proceq سوئیس
سختی سنج UCI
سختی سنج انعطاف پذیر UCI مناسب برای مواد ریز دانه با هر شکل و سطوح حرارت دیده
دارای صفحه نمایش لمسی با ویژگی های نرم افزاری پیشرفته و توابع تجزیه و تحلیل
ترکیب شده با Leeb و Rockwell
بازخورد روی صفحه نمایش برای کاهش اشتباهات اندازه گیری ناشی از اپراتور
Native Scale |
HV (UCI) |
||||||
Measuring Range |
20 - 2000 HV |
||||||
Measuring Accuracy |
± 2% (150 - 950 HV) |
||||||
Available Scales |
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA |
||||||
Available Probes |
UCI (Adjustable HV1 - HV5) |
||||||
Combination With Other Methods |
Leeb, Portable Rockwell |
||||||
Average Roughness Ra (µm / µinch) |
12.5 / 500 |
||||||
Minimum Mass (kg / lbs) |
0.3 / 0.66 |
||||||
Minimum Thickness (mm / inch) |
5 / 0.2 |
||||||
Display |
7” color rugged touchscreen unit (800 x 480 pixels) with dual core processor |
||||||
Memory |
Internal 8 GB flash memory (> 1’000’000 measurements) |
||||||
Connections |
USB host / device and Ethernet |
||||||
ساخت کمپانی Proceq سوئیس
سختی سنج Rockwell
سختی سنج Rockwell جهت آزمایش بر روی قطعات حساس به خش، .جلا داده شده و نازک
دارای صفحه نمایش لمسی با ویژگی های نرم افزاری پیشرفته و توابع تجزیه و تحلیل
ترکیب شده با Leeb و UCI
Native Scale |
µm, µinch |
Measuring Range |
0 - 100 µm; 19 - 70 HRC; 35 - 1‘000 HV |
Measuring Accuracy |
± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC |
Available Scales |
HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA |
Available Probes |
Portable Rockwell (50N) |
Combination With Other Methods |
Leeb, UCI |
Average Roughness Ra (µm / µinch) |
2 / 80 |
Minimum Mass (kg / lbs) |
No requirement |
Minimum Thickness (mm / inch) |
10 x indendation depth |
ساخت کمپانی Proceq سوئیس
سختی سنج Leeb
سختی سنج چند منظوره Leeb جهت آزمایش قطعات سنگین، بزرگ و یا نصب شده با صفحه نمایش لمسی نازک
دارای ویژگی های نرم افزاری پیشرفته و توابع تجزیه و تحلیل
استفاده از پروب کامل Leeb و ترکیب آن با Rockwell و UCI
Native Scale |
HL |
Measuring Range |
150 - 950 HL |
Measuring Accuracy |
± 4 HL (0.5% at 800 HL) |
Available Scales |
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA |
Available Probes |
Leeb D / DC / DL / S / E / G / C |
Combination With Other Methods |
Portable Rockwell, UCI |
Average Roughness Ra (µm / µinch) |
7 / 275 (Leeb G) |
Minimum Mass (kg / lbs) |
0.02 / 0.045 (Leeb C) |
Minimum Thickness (mm / inch) |
1 / 0.04 (Leeb C) |
ساخت کمپانی Proceq سوئیس
سختی سنجUCI
جهت اندازه گیری سختی نمونه های با ضخامت حداقل یک میلی متری، اجسام با پوشش نازک و پیچیده،
دارای یونیت الکترونیکی، پرابUCI، ۲ عدد باطری AA، شارژر، کابل USB، جعبه حمل و دفترچه راهنما
ساخت کمپانی NOVOTEST اوکراین
سختی سنج ترکیبی UD2
جهت اندازه گیری سختی اجسام با سطح پیچیده با بهره گیری از دو روش UCI و Leeb
دارای سختی سنج، پراب UCD، پرابLeeb، ۳ عدد باطری AA، شارژر، کابل USB، نرم افزار لازم برای pc، جعبه حمل و دفترچه راهنما
ساخت کمپانی NOVOTEST اوکراین
سختی سنج Leeb
جهت اندازه گیری سختی اجسام بزرگ، فلزات غیر آهنی، چدن و مناسب برای تمامی شرایط آب و هوایی، با قابلیت عکسبرداری از نمونه های مورد آزمایش
دارای تستر سختی، پراب Leeb، ۳ عدد باطری AA، شارژر، کابل USB، نرم افزار لازم برای PC، جعبه حمل و دفترچه راهنما
ساخت کمپانی NOVOTEST اوکراین
سختی سنجUCI
جهت اندازه گیری سختی نمونه های کوچک، اجسام با پوشش نازک و پیچیده، مناسب برای تمامی شرایط آب و هوایی
دارای تستر سختی، پرابUCI، ۳ عدد باطری AA، شارژر، کابل USB، جعبه حمل و دفترچه راهنما
ساخت کمپانی NOVOTEST اوکراین